该设备用于膜电极的外观瑕疵检测及2D尺寸测量，详情如下：
边 框 区：气泡、划伤、褶皱、波浪纹等（需具体评估）
反 应 区：质子膜穿孔/破损、催化剂层脱落等（需具体评估）
GDL破损、GDL断裂等（需具体评估）
尺寸测量：产品总长宽尺寸测量、产品孔槽特征内径尺寸测量等（需具体评估）
该设备采用2个高清相机相机
光栅尺触发获取图像
凯发k8一触即发自研检测系统，重复精度±0.02mm，超大数据存储容量
主要工艺
膜电极的外观瑕疵检测机的设计旨在开发一款能够对膜电极进行高精度瑕疵检测的设备，匹配五合一半成品膜电极检测及七合一成品膜电极检测等应用场景。设备采用高精度高清相机进行扫描成像，凯发k8一触即发自研检测系统。产品支持全自动/半自动/人工上下料。
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